电子通信产品在设计之初,就要事先考虑因ESDLightning引发损坏电子元器件的问题。由于从设计到终端客户手中,通常会执行静电放电(ESD)和雷击(Lightning)验证,Lightning可能对芯片造成严重破坏,从而会给厂商带来比较大的损失。因而,研发人员的设计对Lightning的等防护设计需要更加重视。 在一些学校、银行特殊场所,为了保证所在环境师生的安全、记录金融系统的实时画面,绝大多数都会安装IPC(IPCamera)设备。IPC是结合传统摄像机与网络技术所产生的新一代摄像机,它可以将影像通过Internet传到某一位置的远端设备,且远端用户在不需要其它软件的情况下,通过网络浏览器即可实时监控其影音;授权用户还可以控制摄像机云台镜头的动作和系统配置。IPC产品如果因ESD或Lightning的设计不佳,不仅影响设备生产企业的产品合格率,而且也造成终端客户的使用感受,这些问题直接影响产品在市场的品牌形象和地位,所以ESD和Lightning防护设计是电子产品设计中不忽视的环节。 一、ESD会带来哪些危害 摩尔于上世纪60年代发表的杂志中提出,随着时间的推进半导体芯片上所集成的晶体管的数量以指数增长;我们所见的产品演变过程是最好的例子,比如电脑从台式机演变成笔记本型电脑,手持大哥大也演变成6英寸的智能手机终端,不仅是个头上的差异,而且功能和产品性能不知提升了多少;受益于先进的光刻设备带动芯片制造行业,厂家可以在同等大小的晶圆上设计更多的晶体管。IC制程越先进,意味着晶体管极间的距离越小,当然受ESD的抗扰度也会越弱。当设备受到外界ESD脉冲的干扰,如果进入敏感电路则会引起设备出现信息读取错误造成电路故障。 二、现有ESD防护方案中的不足 目前现有的ESD防护设计方案中,也存在其它不足。除了ESD的防护设计,也要注意EOS(ElectricalOverStress电气过应力);为了便于接线,室外IPC设备大多通过POE供电,其网络和电源一同铺设在网线槽中;户外设备除了自然界的雷击(Lightning)会造成EOS,市电的波动所形成EOS也会对设备产生影响。ESD和EOS的测试标准分别对应IEC6100042和IEC6100045,相较于ESD的测试波形,EOS测试波形具有持续时间长、破坏能力强的特点(图1),所以在同样电压条件下EOS对芯片的损坏更为严重,再者IPC设备大多数存在于户外,这也是为什么IPC设计会模拟雷击浪涌测试的原因。 图1。ESD和EOS差异 三、LAN口ESD和Lightning的防护 在IPC产品中LAN为常用性外设接口,选用TVS器件需要了解Lightning参数IPP(PeakPulseCurrent)(tp820ms)。针对RJ45二次侧的TVS应用,晶焱科技推出了AZ151304S针对LineGND共模抑制方案,该产品为为SOT236L封装,集成了4路的IO和1路电源的保护,同时具有ESD和EOS低钳位电压特点(图3);针对LineLine差模抑制方案,推出了SOT236L封装产品AZ160302S,在PCBLayout时轻松匹配差分对的阻抗。101001000M网络的信号传输测试过程中,同样对TVS器件的寄生电容要求极高,AZ151304S和AZ160302S超低寄生电容参数如附表1,兼顾不同IPC设备与主机间长缆线通信对于寄生容值的冗余要求。 图2。LAN口防护方案 图3。AZ151304S浪涌和TLP测试 LAN口的防雷击设计对PCB布局要求非常高,除了满足网络变压器一次侧与二次侧间的间距要求、差分对阻抗要求,在TVS的PCBLayout需要注意信号线走向先要经过TVS,且线路越短越好,这样,当外界的ESD和EOS突波来临时能更快速启动TVS,以达到泄放电流的目的。总结,通常IPC产品在网络变压器一次侧会安装大电流的防雷击器件,但存在钳位电压太高的问题,其中一部分能量通过初级与次级的分布电容耦合到后级电路,从而造成产品损坏;当差分线间形成差模电压时,能量是会通过网络变压器的初级线圈耦合到次级,如不通过TVS泄放多余电流,会造成PHY芯片的损坏,网络变压器二次侧的防护显得更为重要。目前可以看到IPC厂商常规测试标准有6kVCM(共模测试电压)3。5kVDM(差模测试电压),模拟雷击实验以满足产品在特定场所抵抗雷击能力,降低环境因素造成的产品故,从而节约维修成本且更好的维护品牌口碑。 PartsNo。 Package Capacitance(pF) Vrwm(V) Channel VclESD8kV(V) VclEOSIpp(V) Ipp(A) AZ151304S SOT236L 2hr3。3 4hr7。5 10hr30hrAZ160302S SOT236L 0。9 3。3 4hr10hr11hr18hr附表1